| 題名: | Root Cause Analysis and Defect Ground Effect of EMI Problem for Power Electronic |
| 作者: | 林漢年 |
| 作者群: | Han-Nien Lin、Wei-Ding Tseng、Cheng-Hau Wu |
| 系所/單位: | 通訊工程學系 |
| 期刊名/會議名稱: | 2019 Joint IEEE EMC & APEMC |
| 會議地點 : | Sapporo Convention Center |
| 會議舉行國家 : | Japan |
| 日期: | 06-03-19 |
| 會議資料 : | 論文集 |
| 學年度: | 108 |
| 分類: | 會議論文 |
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