題名: Design and Characteristic Calibration of TEM Cell for IC Radiation EMC Test
作者: 林漢年
作者群: Han-Nien Lin、Po-Ning Ko、Yu-Chun Huang、Huei-Chun Hsiao、Jie-Kuan Li
系所/單位: 通訊工程學系
期刊名/會議名稱: EDAPS 2019: IEEE Electrical Design of Advanced Packaging and Systems
會議地點 : The Grand HiLai Hotel
會議舉行國家 : Taiwan
日期: 12-16-19
會議資料 : 摘要集+CD
學年度: 108
分類:會議論文

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