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dc.contributor.author張恩獎
dc.date94學年度第二學期
dc.date.accessioned2009-06-03T03:19:44Z
dc.date.accessioned2020-05-22T08:32:06Z-
dc.date.available2009-06-03T03:19:44Z
dc.date.available2020-05-22T08:32:06Z-
dc.date.issued2006-06-23T02:16:05Z
dc.date.submitted2006-06-22
dc.identifier.otherM9493600
dc.identifier.urihttp://dspace.lib.fcu.edu.tw/handle/2377/519-
dc.description.abstract本文提出了幾種由印刷天線與微帶線貼片所組成不同架構子陣列之無限大陣列天線的分析與掃描特性之探討;分析方法以將子陣列內與子陣列間元件相互耦合狀況都考慮進去的全波動差法(full-wave moment method)為基礎,而子陣列掃描盲點的影響可藉由應用印刷天線與微帶線貼片所組成二元件子陣列實驗觀察而得,且由實驗結果可知這樣結構的子陣列確實可以達到抑制因為掃瞄盲點而產生的不匹配;實驗也會探討限制了由子陣列構成的陣列天線實際掃描範圍的主要因素-幅射入閘波瓣能量的多寡。
dc.format.extent36p
dc.format.extent587682 bytes
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isozh
dc.rightsopenbrowse
dc.subject天線陣列
dc.subjectarray antenna
dc.title以印刷天線子陣列組成龐大陣列之掃描特性的探討
dc.title.alternativeScanning Characteristics of Infinite Arrays of Printed Antenna Subarrays
dc.typegradreport
dc.description.course天線特論
dc.contributor.department電機工程研究所,資訊電機學院
dc.description.instructor陳志強
dc.description.programme電機工程研究所,資訊電機學院
分類:資電094學年度

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