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dc.contributor.author林書賢
dc.date97學年度第一學期
dc.date.accessioned2009-06-02T07:56:07Z
dc.date.accessioned2020-05-29T08:37:17Z-
dc.date.available2009-06-02T07:56:07Z
dc.date.available2020-05-29T08:37:17Z-
dc.date.issued2008-12-29T02:24:51Z
dc.date.submitted2008-12-29
dc.identifier.otherD9465659
dc.identifier.urihttp://dspace.fcu.edu.tw/handle/2377/745-
dc.description.abstract本專題中,我們藉由不同閘極工程以研究砷化銦鋁/砷化銦鎵變晶式高電子移動率電晶體(MHEMTs)之特性。其閘極結構包括蒸鍍金、鎳/金以及於鎳/金上成長一層氮化矽鈍化層(SiNx passivation)。 高銦含量之砷化銦鋁/砷化銦鎵變晶式高電子移動率電晶體之通道有著相當好的高頻應用以及低雜訊的特性。然而,高銦成分之砷化銦鎵通道存在著紐結效應(kink effect)、低崩潰的特性亦影響元件在功率方面的應用。因此為了改善紐結效應,我們將於閘極上蒸鍍高功函數之鎳金屬,藉由減少片電流密度來壓抑離子衝擊效應(impact ionization)。此外,我們於擁有鎳金屬之砷化銦鋁之蕭特基層上成長氮化矽覆蓋層,藉以抑制紐結效應以及減少蕭特基層上的表面缺陷。由實驗結果可知,鎳/金閘極之元件擁有最好的高頻以及低雜訊特性。此外,成長氮化矽之鎳/金閘極之元件得到最小的輸出轉導、最高增益、最好線性度、最大的崩潰進而得到最好的功率特性。因此,擁有氮化矽以及鎳/金閘極之砷化銦鋁/砷化銦鎵變晶式高電子移動率電晶體相當適合於高線性度以及高功率的應用方面。
dc.description.tableofcontents摘要 i 目錄 ii 圖、表目錄 iv 第一章 簡介 1 第二章 MHEMTs之基礎 3 2-1 MHEMTs簡介 3 2-2 MHEMTs結構層設計 3 2-3紐結效應 6 第三章 元件結構與製程 7 3-1元件結構 7 3-2閘極工程方法 7 3-3元件製程 7 3-3-1樣本定位 8 3-3-2高台絕緣 8 3-3-3源極與汲極歐姆接觸組成 9 3-3-4閘極蕭特基接觸組成 9 3-3-5覆蓋層組成 10 第四章 實驗數據與討論 11  4-1霍爾量測 11 4-2溫度300K之直流特性 12 4-3射頻特性 15 4-4功率特性 16 4-5雜訊特性 17 4-6溫度相依特性 18 第五章 結論 20 參考資料 21
dc.format.extent65p.
dc.language.isozh
dc.rightsopenbrowse
dc.subject氮化矽覆蓋層
dc.subject鎳金屬
dc.subject離子衝擊效應
dc.subject紐結效應
dc.subject表面缺陷
dc.title運用閘極工程減緩砷化銦鋁/砷化銦鎵變晶式高電子移動率電晶體紐結效應之研製
dc.typeUndergraReport
dc.description.course化合物半導體元件
dc.contributor.department電子工程學系,資訊電機學院
dc.description.instructor李景松
dc.description.programme電子工程學系,資訊電機學院
分類:資電097學年度

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