1. Feng Chia University Institutional Repository

瀏覽 的方式： 作者 Lai, Liang-Chien

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題名作者日期
Reduction of Test Power during Test Application in Full-Scan Sequential Circuits with Multiple Capture TechniquesLin, Hsu-Yang; Tseng, Wang-Dauh; Lai, Liang-Chien2007-01-26T02:02:06Z
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