題名: Investigation of AlGaN/GaN MOS-HEMT with In-Situ Doped Al2O3 by Using Ultrasonic Pyrolysis Deposition
作者: 李景松
作者群: W .C. Hsu、Y. P. Huang、C. S. Lee
系所/單位: 電子工程學系
期刊名/會議名稱: 2019 International Conference on Materials Sciences and Nanomaterials
會議地點 : University of Oxford
會議舉行國家 : United Kingdom
日期: 07-22-19
會議資料 : 摘要集+CD
學年度: 108
分類:會議論文

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