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dc.contributor.author李景松-
dc.contributor.otherChing-Sune Lee*、Wei-Chou Hsu、Yun-Jung Lin、Xue-Cheng Yao-
dc.date108-
dc.date.accessioned2020-06-15T03:15:06Z-
dc.date.available2020-06-15T03:15:06Z-
dc.date.issued11-10-19-
dc.identifier.urihttp://dspace.fcu.edu.tw/handle/2376/1159-
dc.relation.ispartofseriesThe 9th Asia-Pacific Workshop on Widegap Semiconductors (APWS2019)-
dc.relation.isversionofaccepted and to be punlished-
dc.titleInAlN/AlN/GaN Γ-Gate MOS-HFET With Composite Al2O3/TiO2 Passivation Layers-
dc.contributor.department電子工程學系-
dc.identifier.AccessionNumber0009-
teacher.countryJapan-
teacher.locationOkinawa Institute of Science and Technology Graduate University (OIST)-
teacher.media論文集+CD-
teacher.international國際性-
teacher.type會議論文-
分類:會議論文

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C108312CE090008_001.pdf
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