題名: Process-induced Warpage Characterization of Flip Chip Package on Packaging
作者: 鄭仙志
作者群: L.-C. Tai、Y.-C. Liu、H.-C. Cheng*
系所/單位: 航太與系統工程學系
期刊名/會議名稱: EMAP2019
會議地點 : Hotel Aqua Palace
會議舉行國家 : South Korea
日期: 11-13-19
會議資料 : CD
學年度: 108
分類:會議論文

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