以印刷天線子陣列組成龐大陣列之掃描特性的探討

Abstract

本文提出了幾種由印刷天線與微帶線貼片所組成不同架構子陣列之無限大陣列天線的分析與掃描特性之探討；分析方法以將子陣列內與子陣列間元件相互耦合狀況都考慮進去的全波動差法（full-wave moment method）為基礎，而子陣列掃描盲點的影響可藉由應用印刷天線與微帶線貼片所組成二元件子陣列實驗觀察而得，且由實驗結果可知這樣結構的子陣列確實可以達到抑制因為掃瞄盲點而產生的不匹配；實驗也會探討限制了由子陣列構成的陣列天線實際掃描範圍的主要因素-幅射入閘波瓣能量的多寡。